元素分析仪深圳大茂电子有限公司

X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)

产品简介：

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积

的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，

能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，

帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系

数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别

出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱

门使样品更易放入。

应用:

--RoHS/WEEE

--有害元素痕量分析

--焊料合金成分分析和镀层厚度测量

--电子产品中金和钯镀层的厚度测量

--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量

--贵金属合金分析和牌号鉴定

产品特点:

--100瓦X射线管

--25mm2PIN 探测器

--多准直器配置

--扫描分析及元素分布成像功能

--灵活运用多种分析模型

--清晰显示样品合格/不合格

--超大样品舱

--同时分析元素含量和镀层厚度

技术参数:

--元素范围:S(16) to U(92)

--可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份

--X射线管功率:100W (50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管

--探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器

--滤波器/准直器:最多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø)

--数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正

--电脑/显示器/系统软件

Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置

15”LCD, 1024 x 768

MicrosoftTM XP SP2

--摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution

--电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz

--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

--XYZ轴行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)

--最大样品尺寸

305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为 50mm (2”)

305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)

--舱室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)

--外型尺寸

高765mm (30.1”)

宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended

深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended

--重量: 135 kg