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光切法显微镜 9J
VIP 第2年
光切法显微镜 9J
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发布日期: 2005/12/23
有效日期:
2005/12/23 14:28:00
产 地: 上海
经营模式:
认证信息:
上海光学仪器五厂
总经理
电话:021-65488226
传真:021-65503311
网址:http://www.csoif.com
地址:上海市齐齐哈尔路76号
详细介绍
光切法显微镜 9J 以光切法测量零件表面的微观不平度,对于表面划痕,刻线或某些缺陷的深度也可以进行测量。 主要技术规格 不平深度测量范围:0.8-----80μm(▽3-----▽9) 不平宽度:用测微目镜0.7μm---2.5mm 用坐标工作台0.01---13mm 总放大倍数:60×/120×/260×/510×
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